Барбашов Рассмотрены методы моделирования функциональных отказов цифровых систем при воздействии радиации, основанные на модели нечеткого цифрового автомата Брауэра. <...> Принципиальным отличием данного метода от традиционных является возможность учета в явной форме в функционально—логических моделях интегральных микросхем (ИМС) зависимости их радиационной стойкости от режима работы, функционального состояния, конструктивно—технологических и схемотехнических параметров ИМС. <...> Рассматриваются методики построения критериальных функций принадлежности базовых элементов для ИМС различной технологии. <...> Даны алгоритмы прогнозирования переходных и остаточных радиационных эффектов в ИМС. <...> Ключевые слова: отказ цифровых систем, нечеткий цифровой автомат Брауэра, радиационная стойкость. <...> Анализ содержания и специфика методов прогнозирования работоспособности электронной компонентной базы (ЭКБ), задачи уровней описания и проектирования, а также взаимосвязанность работ по этапам и уровням, показывают на предпочтительность описания и проектирования ЭКБ на структурном и функционально-логическом уровнях, так как на этих уровнях формируются решения, определяющие качество системы, содержание и направление работ на следующих уровнях проектирования, базирующиеся на трех основных компонентах: методе проектирования, способе принятия решений и совокупности критериальных функций принадлежности (КФП) по критерию радиационной стойкости (РС), используемых для их решений [1]. <...> Методы прогнозирования поведения цифровых ЭКБ при радиационных воздействиях связаны, как правило, с использованием теории вероятности, из которой можно выделить методы теории информации и надежности [2]. <...> При этом модели отказа ЭКБ на сегодняшний день рассматриваются в рамках теории надежности [3]. <...> Также следует отметить, что использование приведенных обобщенных показателей надежности для построения моделей отказа не всегда <...>