Недавно разработанный метод сканирующей резистивной микроскопии (СРМ) зарекомендовал себя как высокоточный инструмент для исследования проводящих свойств поверхностей. <...> Он отличается от традиционной атомно-силовой микроскопии тем, что позволяет одновременно получать информацию и о топографии, и о сопротивлении контакта зонда и образца. <...> В данной работе этот метод применялся для исследования проводящих свойств поверхности высокоориентированного пиролитического графита. <...> Ряд экспериментальных фактов, установленных нами, свидетельствует о том, что область применения метода СРМ при проведении исследований нанообъектов на графитовой подложке ограничена пространством атомных террас, поскольку при прохождении атомных ступеней меняется состояние контакта зонда и образца, что оказывает колоссальное влияние на его проводящие свойства! <...>