Силовая электроника, № 1’2016 на наличием на передней панели ИП удобного осциллографа для отслеживания параметров выходного сигнала в режиме реального времени. <...> Кроме того, желаемый уровень значений тока можно регулировать путем изменения скорости нарастания текущих переходов High–Low. <...> По желанию оператора электронная нагрузка также может быть выставлена в режим постоянного тока (CC), предназначенный для тестирования устройств в режиме Continuous Wave (CW). <...> Одной из ключевых особенностей нагрузок серии SL является то, что даже в режиме CC скорость нарастания может быть установлена для устранения превышения предустановленных параметров [3]. <...> Заключение Снижение материальных и временных затрат при тестировании ЛД — актуальная проблема современных промышленных предприятий, работающих в области производства и промышленного применения таких полупроводниковых устройств. <...> В качестве одного из основных элементов лабораторной системы все чаще используются программируемые ИП. <...> В статье были рассмотрены способы использования программируемых ИП как отдельно, так и в составе тестовых стендов, включающих также электронные нагрузки — модуляторы тока. <...> Благодаря встроенным функциональным возможностям такого оборудования становятся возможными: • автоматизация процесса проведения тестирования и анализа его результатов; • задание программ поведения комплекса оборудования при возникновении нештатных ситуаций; • удаленный контроль и управление испытаниями; • интеграция ИП серии DLM, DSC и SG и электронных нагрузок серии SL в сущеИсточники питания ствующую среду управления на основе вычислительной сети предприятия с использованием ПО LabView [3]. <...> Встроенные функциональные возможности программируемых ИП и электронных нагрузок подразделения AMETEK Programmable Power позволяют провести комплексное тестирование ЛД и СД, заменить устаревшее испытательное оборудование и повысить эффективность работы лабораторного комплекса <...>