006.91Метрология. Меры и веса
← назад

Свободный доступ

Ограниченный доступ
Автор: Гречишников Владимир Михайлович
Изд-во СГАУ
В пособии рассмотрены вопросы метрологического обеспечения экспериментальных исследований преобразователей информации различной физической природы. Особое внимание уделено метрологическому обеспечению вычислительного эксперимента, направленного на прогнозирование метрологических характеристик цифровых преобразователей информации. Рассмотрены принципы построения, методы анализа и примеры практического применения обобщенных математических моделей, позволяющих на ранних стадиях проектирования новых конструкций цифровых преобразователей информации с высокой степенью достоверности оценивать их технические возможности, не прибегая к дорогостоящему физическому эксперименту. Рассмотрены также методы и аппаратура для механических и климатических испытаний разрабатываемых преобразователей информации. Электронное учебное пособие разработано на кафедре электротехники.
Предпросмотр: Метрологическое обеспечение разработки и испытания преобразователей информации [Электронный ресурс] .pdf (0,2 Мб)
Автор: Сергеев А. Г.
Логос: М.
Изложено основное содержание метрологии как науки. Показаны ее становление, роль в развитии науки, техники, производства и общества. Раскрыты основные понятия метрологии, положения Международной системы единиц, рассмотрены вопросы обеспечения единства измерений в стране, а также прогнозирования путем развития метрологии.
Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению «Стандартизация, сертификация и метрология» и специальности «Метрология и метрологическое обеспечение». Может представлять интерес для специалистов, использующих в своей деятельности средства и результаты измерений.
Предпросмотр: Метрология.pdf (0,2 Мб)
Предпросмотр: Метрология (1).pdf (0,1 Мб)
Автор: Сергеев А. Г.
Логос: М.
Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление нанометрологии в XX-XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциям - поверке и калибровке. Материал по сканирующей зондовой микроскопии изложен на основе семи современных стандартов, введенных в 2008-2009 гг. Описаны организационные принципы нанометрологии, системы Гостехрегулирования через сеть региональных отделений вновь созданного Центра метрологического обеспечения нанотехнологий и отраслевых научно-исследовательских институтов. Приведен перечень вузов, работающих в сфере наноиндустрии, и указаны основные направления их исследований в данной области.
Предпросмотр: Нанометрология .pdf (0,2 Мб)