Информационные системы и технологии АВТОМАТИЗАЦИЯ И УПРАВЛЕНИЕ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИМИ ПРОЦЕССАМИ И ПРОИЗВОДСТВАМИ УДК 681.2 М.С. ГРИГОРОВ, А.А. НЕВРОВ, О.О. БАСОВ РАСПОЗНАВАНИЕ КОНТАКТНЫХ ПЛОЩАДОК КРИСТАЛЛОВ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ НА РЕНТГЕНОВСКИХ ИЗОБРАЖЕНИЯХ В статье приводится методика анализа рентгеновских изображений интегральных микросхем с целью определения координат расположения контактных площадок на кристаллах. <...> Методика основана на математическом аппарате обработки изображений, реализованном через библиотеку функций компьютерного зрения OpenCV с открытым исходным кодом на языке программирования C++. <...> ВВЕДЕНИЕ Проведение рентгеновского контроля интегральных микросхем (ИМС) является одной из задач контроля качества электронных компонентов перед монтажом на печатные платы. <...> С помощью рентгеновского контроля проверяется [1]: качество разварки соединительного проводника кристалл-рамка; наличие пустот между подложкой и кристаллом; наличие пустот в корпусе; микротрещины компонента. <...> Контроль качества разварки соединительного проводника кристалл-рамка может быть подвергнут автоматизации с помощью применения методов обработки рентгеновских изображений (РИ) ИМС. <...> При этом основными проверяемыми параметрами являются: правильность расположения контактных площадок кристалла (КПК) ИМС; целостность соединительного проводника; правильность соединения проводника с рамкой. <...> Решению задачи автоматизации определения правильности расположения КПК ИМС посвящена данная работа. <...> Автоматизация определения координат КПК ИМС позволит повысить оперативность деятельности оператора рентгеновского контроля и всего процесса контроля в целом. <...> ПОСТАНОВКА ЗАДАЧИ Для определения правильности расположения КПК ИМС необходимо решить задачу их распознавания на цифровых РИ, полученных по результатам визуализации внутренней структуры ИМС методом рентгенографии. <...> Исходными данными для реализации <...>