Национальный цифровой ресурс Руконт - межотраслевая электронная библиотека (ЭБС) на базе технологии Контекстум (всего произведений: 634655)
Контекстум
.

Нанотехнология и микромеханика. Ч. 5. Надежность наноприборов и радиоэлектронных устройств на их основе (160,00 руб.)

0   0
АвторыШашурин В. Д., Ветрова Н. А., Иванов Ю. А.
ИздательствоМ.: Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана
Страниц88
ID287384
АннотацияПроанализированы вопросы обеспечения надежности радиоэлектронных средств нового поколения - на базе приборов, функционирующих на квантоворазмерных эффектах в наноразмерных слоях составляющих их полупроводниковых гетероструктур. В качестве примера рассмотрено обеспечение надежности смесителя радиосигналов СВЧ-диапазона на базе резонансно-туннельных диодов.
Кем рекомендованоУчебно-методическим объединением вузов по университетскому образованию в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений, обучающихся по специальности «Метрология и метрологическое обеспечение» направления подготовки «Метрология, стандартизация и сертификация»
Кому рекомендованоДля студентов старших курсов.
ISBN---
УДК621.382(075.8)
ББК32.844.1
Нанотехнология и микромеханика. Ч. 5. Надежность наноприборов и радиоэлектронных устройств на их основе : учеб. пособие / В.Д. Шашурин, Н.А. Ветрова, Ю.А. Иванов .— Москва : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2012 .— 88 с. — URL: https://rucont.ru/efd/287384 (дата обращения: 23.04.2024)

Предпросмотр (выдержки из произведения)

Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана НАНОТЕХНОЛОГИЯ И МИКРОМЕХАНИКА Часть 5 Надежность наноприборов и радиоэлектронных устройств на их основе Допущено Учебно-методическим объединением вузов по университетскому образованию в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений, обучающихся по специальности «Метрология и метрологическое обеспечение» направления подготовки «Метрология, стандартизация и сертификация» Москва Издательство МГТУ им. <...> 5 : Надежность наноприборов и радиоэлектронных устройств на их основе / В.Д. Шашурин, Н.А. Ветрова, Ю.А. Иванов и др. <...> Проанализированы вопросы обеспечения надежности радиоэлектронных средств нового поколения – на базе приборов, функционирующих на квантоворазмерных эффектах в наноразмерных слоях составляющих их полупроводниковых гетероструктур. <...> В качестве примера рассмотрено обеспечение надежности смесителя радиосигналов СВЧ-диапазона на базе резонансно-туннельных диодов. <...> Н.Э. Баумана, 2012 ОСНОВНЫЕ СОКРАЩЕНИЯ ВАХ — вольт-амперная характеристика ГФЭ — газофазная эпитаксия с использованием металлоорганических соединений ДБШ – диод на барьерах Шоттки МЛЭ — молекулярно-лучевая эпитаксия РТДрезонансно-туннельный диод РТСрезонансно-туннельная структура РЭС — радиоэлектронные средства СВЧ — сверхвысокочастотный См РТД СВЧсмеситель радиосигналов на основе резонаснотуннельных диодов СВЧ-диапазона ОСНОВНЫЕ ОБОЗНАЧЕНИЯ D — динамический диапазон приемного тракта системы связи Ef1(t) и Ef2(t) — уровни Ферми в приконтактных высоколегированных областях элемента, функционирующего на резонансном туннелировании fвых — спектр выходного сигнала смесителя радиосигналов, в котором присутствуют гармоники с частотами ±mfс ± nfг, где m и n — целые числа fг — частота сигнала гетеродина fпч — промежуточная частота сигнала на выходе смесителя радиосигналов fс — частота сигнала, поступающего на вход <...>
_Нанотехнология_и_микромеханика_Ч.5.pdf
УДК 621.382(075.8) ББК 32.844.1 H25 Авторы: В.Д. Шашурин, Н.А. Ветрова, Ю.А. Иванов, С.А. Мешков, О.С. Нарайкин, Н.В. Федоркова, В.О. Москаленко Рецензенты: В.В. Слепцов, П.А. Тодуа Н25 Нанотехнология и микромеханика : учеб. пособие. — Ч. 5 : Надежность наноприборов и радиоэлектронных устройств на их основе / В.Д. Шашурин, Н.А. Ветрова, Ю.А. Иванов и др. — М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2012. — 84, [4] с.: ил. Проанализированы вопросы обеспечения надежности радиоэлектронных средств нового поколения – на базе приборов, функционирующих на квантоворазмерных эффектах в наноразмерных слоях составляющих их полупроводниковых гетероструктур. В качестве примера рассмотрено обеспечение надежности смесителя радиосигналов СВЧ-диапазона на базе резонансно-туннельных диодов. Для студентов старших курсов. УДК 621.382(075.8) ББК 32.844.1 © МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2012
Стр.2
ОГЛАВЛЕНИЕ Список сокращений ........................................................................ 3 Список основных обозначений ..................................................... 3 Введение ............................................................................................ 5 1. Проблемы обеспечения качества производства наноприборов и радиоэлектронных устройств на их основе............ 6 1.1. Тенденции развития радиоэлектронных систем связи ........ 6 1.2. Конструкторско-технологические аспекты изготовления радиоэлектронных устройств на базе наноприборов ... 8 1.3. Формирование показателей надежности радиоэлектронных устройств на базе наноприборов .................... 10 1.4. Проблемы обеспечения качества производства радиоэлектронных устройств на базе наноприборов на примере смесителей радиосигналов СВЧ-диапазона на основе резонансно-туннельных диодов ................................ 11 2. Закономерности формирования постепенных отказов наноприборов и радиоэлектронных устройств на их основе ............................................................................................. 18 2.1. Структурная схема формирования и изменения эксплуатационных параметров наноприборов и радиоэлектронных устройств на их основе .................................... 18 2.2. Влияние изменения в процессе деградации параметров резонансно-туннельной структуры на электрические характеристики смесителей радиосигналов СВЧ-диапазона на основе резонансно-туннельных диодов ................... 28 2.2.1. Исследование чувствительности электрических параметров балансного СМ РТД СВЧ к ширине Nb барьеров РТС ................................................................. 32 2.2.2. Исследование чувствительности электрических параметров балансного СМ РТД СВЧ к высоте Vb барьеров РТС ................................................................. 35 2.2.3. Исследование чувствительности электрических параметров балансного СМ РТД СВЧ к ширине ямы Nw РТС ..................................................................... 38 84
Стр.84
2.3. Анализ влияния технологических погрешностей на выходные электрические параметры радиоэлектронных устройств на основе наноприборов ....................................... 42 3. Конструкторско-технологическая оптимизация радиоэлектронных устройств на основе наноприборов ................ 52 3.1. Конструкторско-технологическая оптимизация радиоэлектронных устройств на основе наноприборов по критерию максимальной гамма-процентной наработки до отказа ................................................................................... 52 3.2. Конструкторско-технологическая оптимизация радиоэлектронных устройств на основе наноприборов с учетом экспертных оценок поля допустимых значений его выходных параметров ............................................................. 58 4. Инженерная методика выполнения конструкторско-технологической оптимизации радиоэлектронных устройств на основе наноприборов ............................................................. 74 Заключение ....................................................................................... 81 Литература ........................................................................................ 83 85
Стр.85